tel. 22 615 73 71
MATERIAŁY DLA ELEKTRONIKI
MATERIAŁY DLA PRZEMYSŁU
MATERIAŁY DO MIKROELEKTRONIKI
AKCESORIA I APARATURA POMIAROWA
PODZESPOŁY
PRZEWODY I AKCESORIA
NARZĘDZIA
LASERY
DIODY LED I AKCESORIA
ARTYKUŁY BHP I ANTYSTATYKA
FOTOWOLTAIKA
USŁUGI DLA ELEKTRONIKI
Sortowanie: nazwa / kod produktu / cena  |
Podstawka testowa, 112pin, QFP112, 7020112608
Producent: WELLS
Kod: 7020112608
150,00 zł netto / szt.
184,50 zł brutto / szt.
Podstawka testowa, 112pin, QFP112, OTQ-112-0,65-02
Producent: Enplas
Kod: OTQ-112-0,65-02
260,00 zł netto / szt.
319,80 zł brutto / szt.
Podstawka testowa, 128pin, QFP128, FPQ-128-0,5-03A
Producent: Enplas
Kod: FPQ-128-0,5-03A
250,00 zł netto / szt.
307,50 zł brutto / szt.
Podstawka testowa, 14 pin, DIP
DIP 14, szerokość 7,62mm
Producent: 3M
Kod: 214-3339-00-0605
27,00 zł netto / szt.
33,21 zł brutto / szt.
Podstawka testowa, 14 pin, SOIC
SOIC 14, szerokość układu 3,81mm
Producent: 3M
Kod: 214-7390-55-1905
53,00 zł netto / szt.
65,19 zł brutto / szt.
Podstawka testowa, 144pin, QFP144, 7020144608
Producent: Sensata (Wells)
Kod: 7020144608
160,00 zł netto / szt.
196,80 zł brutto / szt.
Podstawka testowa, 16 pin, DIP
DIP 16, szerokość 7,62mm
Producent: 3M
Kod: 216-3340-00-0605
31,00 zł netto / szt.
38,13 zł brutto / szt.
Podstawka testowa, 16pin, SOP16, 652B0162211-001
Producent: Sensata (Wells)
Kod: 652B0162211-001
35,00 zł netto / szt.
43,05 zł brutto / szt.
Podstawka testowa, 16pin, SOP16, 652B0162211-002
Producent: WELLS
Kod: 652B0162211-002
35,00 zł netto / szt.
43,05 zł brutto / szt.
Podstawka testowa, 16pin, SOP16, IC51-0162-1035
Producent: YAMAICHI
Kod: IC51-0162-1035
90,00 zł netto / szt.
110,70 zł brutto / szt.
Podstawka testowa, 18 pin, DIP
DIP 18, szerokość 7,62mm
Producent: 3M
Kod: 218.03-3341-00-0605
35,00 zł netto / szt.
43,05 zł brutto / szt.
Podstawka testowa, 18 pin, SOIC
SOIC 18, szerokość układu 7,62mm
Producent: 3M
Kod: 218-7223-55-1905
61,00 zł netto / szt.
75,03 zł brutto / szt.
|
Nasz serwis wykorzystuje pliki cookies. Korzystanie z witryny oznacza zgodę na ich zapis lub wykorzystanie.
Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności. |
|
