Katalog.pdf
Podstawka testowa do układów scalonych w obudowie SOIC.
SPECYFIKACJA:
Typ podstawki | SOIC |
Ilość pinów | 14 |
Raster | 2,54 mm |
Szerokość układu | 3,81 mm (0,15'') |
Montaż | SMT |
Temperatura pracy | -55˚C - 150˚C |
Prąd znamionowy | 1A |
Ilość pinów | 0 - 20 |
Obudowa | SOIC |
Podstawka testowa, 18 pin, DIP
DIP 18, szerokość 7,62mm
Producent: 3M
Kod: 218.03-3341-00-0605
Dostępna ilość: 0 (szt.)
Podstawka testowa, 48pin, TSOPI, IC189-0482-077N
Producent: YAMAICHI
Kod: IC189-0482-077N
Dostępna ilość: 1 (szt.)
150,00 zł netto / szt.
184,50 zł brutto / szt.
Podstawka testowa, 48pin, TSOP48, 6480482211-A01
Producent: Sensata (Wells)
Kod: 6480482211-A01
Dostępna ilość: 27 (szt.)
100,00 zł netto / szt.
123,00 zł brutto / szt.
Podstawka testowa, 8pin, SOP8, 652C0082211W
Producent: Sensata (Wells)
Kod: 652C0082211W
Dostępna ilość: 50 (szt.)
55,00 zł netto / szt.
67,65 zł brutto / szt.