Podstawka testowa do układów scalonych w obudowie DIP.
Podstawka przeznaczona do układów scalonych o szerokim rozstawie.
WŁASNOŚCI:
Prąd: 1A
Rezystancja izolacji: > 1*10^9Ω do 500VDC
Wytrzymałość napięciowa: 1000V
Temperatura pracy: -55°C +150°C
Raster między rzędami: 20,32 mm.
Ilość pinów | 20 - 40 |
Obudowa | inne |
Podstawka testowa, 28 pin, DIP
DIP 28, szerokość 15,24mm
Producent: 3M
Kod: 228-3345-00-0605
Dostępna ilość: 63 (szt.)
25,00 zł netto / szt.
30,75 zł brutto / szt.
Podstawka testowa, 44pin, SOP44, IC189-0442-065N
Producent: YAMAICHI
Kod: IC189-0442-065N
Dostępna ilość: 2 (szt.)
150,00 zł netto / szt.
184,50 zł brutto / szt.
Podstawka testowa, 32pin, SMD, TSOP32, 648A0322211-A01
Podstawka montowana do druku
Producent: Sensata (Wells)
Kod: 648A0322211-A01
Dostępna ilość: 9 (szt.)
95,00 zł netto / szt.
116,85 zł brutto / szt.
Podstawka testowa, 18 pin, DIP
DIP 18, szerokość 7,62mm
Producent: 3M
Kod: 218.03-3341-00-0605
Dostępna ilość: 0 (szt.)