tel. 22 615 83 40
MATERIAŁY DLA ELEKTRONIKI
MATERIAŁY DLA PRZEMYSŁU
MATERIAŁY DO MIKROELEKTRONIKI
MATERIAŁY DLA LOTNICTWA
AKCESORIA I APARATURA POMIAROWA
PODZESPOŁY
PRZEWODY I AKCESORIA
NARZĘDZIA
LASERY
ARTYKUŁY BHP I ANTYSTATYKA
FOTOWOLTAIKA
USŁUGI DLA ELEKTRONIKI
Katalog.pdf
Podstawka testowa do układów scalonych w obudowie DIP.
SPECYFIKACJA:
| Typ podstawki | DIP - ZIF |
| Ilość pinów |
28 |
| Raster | 2,54 mm |
| Odległość pomiędzy rzędami | 15,24 mm |
| Montaż | THT |
| Temperatura pracy | -55˚C - 150˚C |
| Prąd znamionowy | 1A |
| Napięcie pracy | 500VDC |
| Ilość cykli pomiarowych | 20000 |
| Ilość pinów | 20 - 40 |
| Obudowa | DIP |
Podstawka testowa, 56pin, TSOP56, 648-0562211-A01
Producent: Sensata (Wells)
Kod: 648-0562211-A01
Dostępna ilość: 0 (szt.)
100,00 zł netto / szt.
123,00 zł brutto / szt.
Podstawka testowa, 28pin, SSOP28, 656S1322811
Producent: Sensata (Wells)
Kod: 656S1322811
Dostępna ilość: 3 (szt.)
65,00 zł netto / szt.
79,95 zł brutto / szt.
Podstawka testowa, 28pin, TSOP28(I), IC51-0282-1032
Producent: YAMAICHI
Kod: IC51-0282-1032
Dostępna ilość: 3 (szt.)
200,00 zł netto / szt.
246,00 zł brutto / szt.
Podstawka testowa, 56pin, SSOP56, 6562562211
Producent: Sensata (Wells)
Kod: 6562562211
Dostępna ilość: 8 (szt.)
150,00 zł netto / szt.
184,50 zł brutto / szt.
|
Nasz serwis wykorzystuje pliki cookies. Korzystanie z witryny oznacza zgodę na ich zapis lub wykorzystanie.
Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności. |
|
