tel. 22 615 83 40
MATERIAŁY DLA ELEKTRONIKI
MATERIAŁY DLA PRZEMYSŁU
MATERIAŁY DO MIKROELEKTRONIKI
MATERIAŁY DLA LOTNICTWA
AKCESORIA I APARATURA POMIAROWA
PODZESPOŁY
PRZEWODY I AKCESORIA
NARZĘDZIA
LASERY
ARTYKUŁY BHP I ANTYSTATYKA
FOTOWOLTAIKA
USŁUGI DLA ELEKTRONIKI
Karta techniczna TDS.pdf
Podstawka testowa otwarta (open-top).
SOP44
Raster - 1,27mm
Szerokość układu: 13,2mm
Specyfikacja:
| Obudowa: | SOP44 |
| Raster: | 1,27 mm (50 mil) |
| Szerokość układu: | 13,2 mm |
| Ilość pinów | 40 - 60 |
| Obudowa | SOP |
Podstawka testowa, 20pin, PLCC20, IC51-0204-602
Producent: YAMAICHI
Kod: IC51-0204-602
Dostępna ilość: 1 (szt.)
100,00 zł netto / szt.
123,00 zł brutto / szt.
Podstawka testowa, 44pin, SOP44, 652G044 2211
Producent: Sensata (Wells)
Kod: 652G044 2211
Dostępna ilość: 3 (szt.)
90,00 zł netto / szt.
110,70 zł brutto / szt.
Podstawka testowa, 18 pin, SOIC
SOIC 18, szerokość układu 7,62mm
Producent: 3M
Kod: 218-7223-55-1905
Dostępna ilość: 20 (szt.)
46,20 zł netto / szt.
56,83 zł brutto / szt.
|
Nasz serwis wykorzystuje pliki cookies. Korzystanie z witryny oznacza zgodę na ich zapis lub wykorzystanie.
Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności. |
|
