Katalog.pdf
Podstawka testowa do układów scalonych w obudowie DIP
SPECYFIKACJA:
Typ podstawki | DIP - ZIF |
Ilość pinów |
40 |
Raster | 2,54 mm |
Odległość pomiędzy rzędami | 15,24 mm |
Montaż | THT |
Temperatura pracy | -55˚C - 150˚C |
Prąd znamionowy | 1A |
Napięcie pracy | 500VDC |
Ilość cykli pomiarowych | 20000 |
Ilość pinów | 20 - 40 |
Obudowa | DIP |
Podstawka testowa, 28 pin, DIP
DIP 28, szerokość 15,24mm
Producent: 3M
Kod: 228-3345-00-0605
Dostępna ilość: 63 (szt.)
25,00 zł netto / szt.
30,75 zł brutto / szt.
Podstawka testowa, 28pin, TSOP28(I), IC51-0282-1032
Producent: YAMAICHI
Kod: IC51-0282-1032
Dostępna ilość: 3 (szt.)
200,00 zł netto / szt.
246,00 zł brutto / szt.
Podstawka testowa, 48 pin DIP
DIP 48, szerokość 15,24mm
Producent: 3M
Kod: 248-4775-00-0605
Dostępna ilość: 1 (szt.)
58,20 zł netto / szt.
71,59 zł brutto / szt.