Katalog.pdf
Podstawka testowa do układów scalonych w obudowie DIP.
SPECYFIKACJA:
Typ podstawki | DIP - ZIF |
Ilość pinów | 48 |
Raster | 2,54 mm |
Odległość pomiędzy rzędami | 15,24 mm |
Montaż | THT |
Temperatura pracy | -55˚C - 150˚C |
Prąd znamionowy | 1A |
Napięcie pracy | 500VDC |
Ilość cykli pomiarowych | 20000 |
Ilość pinów | 40 - 60 |
Obudowa | DIP |
Podstawka testowa, 112pin, QFP112, OTQ-112-0,65-02
Producent: Enplas
Kod: OTQ-112-0,65-02
Dostępna ilość: 1 (szt.)
260,00 zł netto / szt.
319,80 zł brutto / szt.
Podstawka testowa, 28pin, SOP28, 652E0282211
Producent: Sensata (Wells)
Kod: 652E0282211
Dostępna ilość: 15 (szt.)
40,00 zł netto / szt.
49,20 zł brutto / szt.