tel. 22 615 83 40
MATERIAŁY DLA ELEKTRONIKI
MATERIAŁY DLA PRZEMYSŁU
MATERIAŁY DO MIKROELEKTRONIKI
MATERIAŁY DLA LOTNICTWA
AKCESORIA I APARATURA POMIAROWA
PODZESPOŁY
PRZEWODY I AKCESORIA
NARZĘDZIA
LASERY
ARTYKUŁY BHP I ANTYSTATYKA
FOTOWOLTAIKA
USŁUGI DLA ELEKTRONIKI
Katalog.pdf
Podstawka testowa do układów scalonych w obudowie DIP.
SPECYFIKACJA:
| Typ podstawki | DIP - ZIF |
| Ilość pinów | 48 |
| Raster | 2,54 mm |
| Odległość pomiędzy rzędami | 15,24 mm |
| Montaż | THT |
| Temperatura pracy | -55˚C - 150˚C |
| Prąd znamionowy | 1A |
| Napięcie pracy | 500VDC |
| Ilość cykli pomiarowych | 20000 |
| Ilość pinów | 40 - 60 |
| Obudowa | DIP |
Podstawka testowa, 48pin, TSOP48, 6480482211-A01
Producent: Sensata (Wells)
Kod: 6480482211-A01
Dostępna ilość: 27 (szt.)
100,00 zł netto / szt.
123,00 zł brutto / szt.
Podstawka testowa, 20pin, PLCC20, IC51-0204-602
Producent: YAMAICHI
Kod: IC51-0204-602
Dostępna ilość: 1 (szt.)
100,00 zł netto / szt.
123,00 zł brutto / szt.
Podstawka testowa, 28pin, SOP28, 652E0282211
Producent: Sensata (Wells)
Kod: 652E0282211
Dostępna ilość: 14 (szt.)
40,00 zł netto / szt.
49,20 zł brutto / szt.
Podstawka testowa, 8pin, SOP8, 652C0082211W
Producent: Sensata (Wells)
Kod: 652C0082211W
Dostępna ilość: 50 (szt.)
55,00 zł netto / szt.
67,65 zł brutto / szt.
|
Nasz serwis wykorzystuje pliki cookies. Korzystanie z witryny oznacza zgodę na ich zapis lub wykorzystanie.
Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności. |
|
