tel. 22 615 83 40
MATERIAŁY DLA ELEKTRONIKI
MATERIAŁY DLA PRZEMYSŁU
MATERIAŁY DO MIKROELEKTRONIKI
MATERIAŁY DLA LOTNICTWA
AKCESORIA I APARATURA POMIAROWA
PODZESPOŁY
PRZEWODY I AKCESORIA
NARZĘDZIA
LASERY
ARTYKUŁY BHP I ANTYSTATYKA
FOTOWOLTAIKA
USŁUGI DLA ELEKTRONIKI
Katalog.pdf
Podstawka testowa do układów scalonych w obudowie DIP.
SPECYFIKACJA:
| Typ podstawki | DIP - ZIF |
| Ilość pinów | 48 |
| Raster | 2,54 mm |
| Odległość pomiędzy rzędami | 15,24 mm |
| Montaż | THT |
| Temperatura pracy | -55˚C - 150˚C |
| Prąd znamionowy | 1A |
| Napięcie pracy | 500VDC |
| Ilość cykli pomiarowych | 20000 |
| Ilość pinów | 40 - 60 |
| Obudowa | DIP |
Podstawka testowa, 14 pin, DIP
DIP 14, szerokość 7,62mm
Producent: 3M
Kod: 214-3339-00-0605
Dostępna ilość: 0 (szt.)
33,50 zł netto / szt.
41,20 zł brutto / szt.
Podstawka testowa, 44pin, SOP44, IC51-0442-1208
Producent: YAMAICHI
Kod: IC51-0442-1208
Dostępna ilość: 3 (szt.)
250,00 zł netto / szt.
307,50 zł brutto / szt.
Podstawka testowa, 40 pin, DIP
DIP 40.08 (szeroki rozstaw)
Producent: 3M
Kod: 240-6182-00-0605
Dostępna ilość: 9 (szt.)
Podstawka testowa, 48pin, TSOPI, IC189-0482-077N
Producent: YAMAICHI
Kod: IC189-0482-077N
Dostępna ilość: 1 (szt.)
150,00 zł netto / szt.
184,50 zł brutto / szt.
|
Nasz serwis wykorzystuje pliki cookies. Korzystanie z witryny oznacza zgodę na ich zapis lub wykorzystanie.
Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności. |
|
