tel. 22 615 83 40
MATERIAŁY DLA ELEKTRONIKI
MATERIAŁY DLA PRZEMYSŁU
MATERIAŁY DO MIKROELEKTRONIKI
MATERIAŁY DLA LOTNICTWA
AKCESORIA I APARATURA POMIAROWA
PODZESPOŁY
PRZEWODY I AKCESORIA
NARZĘDZIA
LASERY
ARTYKUŁY BHP I ANTYSTATYKA
FOTOWOLTAIKA
USŁUGI DLA ELEKTRONIKI
Katalog.pdf
Podstawka testowa do układów scalonych w obudowie DIP
SPECYFIKACJA:
| Typ podstawki | DIP - ZIF |
| Ilość pinów | 32 |
| Raster | 2,54 mm |
| Odległość pomiędzy rzędami | 15,24 mm |
| Montaż | THT |
| Temperatura pracy | -55˚C - 150˚C |
| Prąd znamionowy | 1A |
| Napięcie pracy | 500VDC |
| Ilość cykli pomiarowych | 20000 |
| Ilość pinów | 20 - 40 |
| Obudowa | DIP |
Podstawka testowa, 112pin, QFP112, OTQ-112-0,65-02
Producent: Enplas
Kod: OTQ-112-0,65-02
Dostępna ilość: 1 (szt.)
260,00 zł netto / szt.
319,80 zł brutto / szt.
Podstawka testowa, 18 pin, SOIC
SOIC 18, szerokość układu 7,62mm
Producent: 3M
Kod: 218-7223-55-1905
Dostępna ilość: 20 (szt.)
46,20 zł netto / szt.
56,83 zł brutto / szt.
|
Nasz serwis wykorzystuje pliki cookies. Korzystanie z witryny oznacza zgodę na ich zapis lub wykorzystanie.
Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności. |
|
