Katalog.pdf
Podstawka testowa do układów scalonych w obudowie DIP
SPECYFIKACJA:
Typ podstawki | DIP - ZIF |
Ilość pinów | 24 |
Raster | 2,54 mm |
Odległość pomiędzy rzędami | 7,62 mm |
Montaż | THT |
Temperatura pracy | -55˚C - 150˚C |
Prąd znamionowy | 1A |
Napięcie pracy | 500VDC |
Ilość cykli pomiarowych | 20000 |
Ilość pinów | 20 - 40 |
Obudowa | DIP |
Podstawka testowa, 28pin, TSOP28(I), IC51-0282-1032
Producent: YAMAICHI
Kod: IC51-0282-1032
Dostępna ilość: 3 (szt.)
200,00 zł netto / szt.
246,00 zł brutto / szt.
Podstawka testowa, 16pin, SOP16, 652B0162211-001
Producent: Sensata (Wells)
Kod: 652B0162211-001
Dostępna ilość: 18 (szt.)
35,00 zł netto / szt.
43,05 zł brutto / szt.
Podstawka testowa, 112pin, QFP112, 7020112608
Producent: WELLS
Kod: 7020112608
Dostępna ilość: 4 (szt.)
150,00 zł netto / szt.
184,50 zł brutto / szt.
Podstawka testowa, 144pin, QFP144, 7020144608
Producent: Sensata (Wells)
Kod: 7020144608
Dostępna ilość: 0 (szt.)
160,00 zł netto / szt.
196,80 zł brutto / szt.