tel. 22 615 83 40
MATERIAŁY DLA ELEKTRONIKI
MATERIAŁY DLA PRZEMYSŁU
MATERIAŁY DO MIKROELEKTRONIKI
MATERIAŁY DLA LOTNICTWA
AKCESORIA I APARATURA POMIAROWA
PODZESPOŁY
PRZEWODY I AKCESORIA
NARZĘDZIA
LASERY
ARTYKUŁY BHP I ANTYSTATYKA
FOTOWOLTAIKA
USŁUGI DLA ELEKTRONIKI
Karta techniczna TDS.pdf
Podstawka testowa otwarta (open-top).
Specyfikacja:
| Obudowa: | TSOPI48 |
| Raster: | 0,5 mm (20 mil) |
| Szerokość układu: | 18,4 mm |
| Ilość pinów | 40 - 60 |
| Obudowa | TSOP |
Podstawka testowa, 20 pin, SOIC
SOIC 20, szerokość układu 7,62mm
Producent: 3M
Kod: 220-7201-55-1902
Dostępna ilość: 13 (szt.)
46,30 zł netto / szt.
56,95 zł brutto / szt.
Podstawka testowa, 40 pin, DIP
DIP 40.08 (szeroki rozstaw)
Producent: 3M
Kod: 240-6182-00-0605
Dostępna ilość: 9 (szt.)
Podstawka testowa, 18 pin, DIP
DIP 18, szerokość 7,62mm
Producent: 3M
Kod: 218.03-3341-00-0605
Dostępna ilość: 0 (szt.)
Podstawka testowa, 44pin, TSOP44, IC51-0442-1709
Producent: YAMAICHI
Kod: IC51-0442-1709
Dostępna ilość: 2 (szt.)
150,00 zł netto / szt.
184,50 zł brutto / szt.
|
Nasz serwis wykorzystuje pliki cookies. Korzystanie z witryny oznacza zgodę na ich zapis lub wykorzystanie.
Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności. |
|
