tel. 22 615 83 40
MATERIAŁY DLA ELEKTRONIKI
MATERIAŁY DLA PRZEMYSŁU
MATERIAŁY DO MIKROELEKTRONIKI
MATERIAŁY DLA LOTNICTWA
AKCESORIA I APARATURA POMIAROWA
PODZESPOŁY
PRZEWODY I AKCESORIA
NARZĘDZIA
LASERY
ARTYKUŁY BHP I ANTYSTATYKA
FOTOWOLTAIKA
USŁUGI DLA ELEKTRONIKI
Katalog.pdf
Podstawka testowa do układów scalonych w obudowie DIP.
SPECYFIKACJA:
| Typ podstawki | DIP - ZIF |
| Ilość pinów | 14 |
| Raster | 2,54 mm |
| Odległość pomiędzy rzędami | 7,62 mm |
| Montaż | THT |
| Temperatura pracy | -55˚C - 150˚C |
| Prąd znamionowy | 1A |
| Napięcie pracy | 500VDC |
| Ilość cykli pomiarowych | 20000 |
| Ilość pinów | 0 - 20 |
| Obudowa | DIP |
Podstawka testowa, 32 pin, DIP
DIP 32, szerokość 15,24mm
Producent: 3M
Kod: 232-1285-00-0602J
Dostępna ilość: 3 (szt.)
27,50 zł netto / szt.
33,83 zł brutto / szt.
Podstawka testowa, 20pin, PLCC20, IC51-0204-602
Producent: YAMAICHI
Kod: IC51-0204-602
Dostępna ilość: 1 (szt.)
100,00 zł netto / szt.
123,00 zł brutto / szt.
Podstawka testowa, 16 pin, DIP
DIP 16, szerokość 7,62mm
Producent: 3M
Kod: 216-3340-00-0605
Dostępna ilość: 0 (szt.)
Podstawka testowa, 16pin, SOP16, IC51-0162-1035
Producent: YAMAICHI
Kod: IC51-0162-1035
Dostępna ilość: 0 (szt.)
90,00 zł netto / szt.
110,70 zł brutto / szt.
|
Nasz serwis wykorzystuje pliki cookies. Korzystanie z witryny oznacza zgodę na ich zapis lub wykorzystanie.
Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności. |
|
