tel. 22 615 83 40
MATERIAŁY DLA ELEKTRONIKI
MATERIAŁY DLA PRZEMYSŁU
MATERIAŁY DO MIKROELEKTRONIKI
MATERIAŁY DLA LOTNICTWA
AKCESORIA I APARATURA POMIAROWA
PODZESPOŁY
PRZEWODY I AKCESORIA
NARZĘDZIA
LASERY
ARTYKUŁY BHP I ANTYSTATYKA
FOTOWOLTAIKA
USŁUGI DLA ELEKTRONIKI
Podstawka testowa do układów scalonych w obudowie DIP.
Podstawka przeznaczona do układów scalonych o szerokim rozstawie.
WŁASNOŚCI:
Prąd: 1A
Rezystancja izolacji: > 1*10^9Ω do 500VDC
Wytrzymałość napięciowa: 1000V
Temperatura pracy: -55°C +150°C
Raster między rzędami: 20,32 mm.
| Ilość pinów | 20 - 40 |
| Obudowa | inne |
Podstawka testowa, 32pin, PLCC32, IC51-0324-453
Producent: YAMAICHI
Kod: IC51-0324-453
Dostępna ilość: 1 (szt.)
100,00 zł netto / szt.
123,00 zł brutto / szt.
Podstawka testowa, 32 pin, PLCC32, 647C0322112
Producent: Sensata (Wells)
Kod: 647C0322112
Dostępna ilość: 26 (szt.)
50,00 zł netto / szt.
61,50 zł brutto / szt.
Podstawka testowa, 32 pin, DIP
DIP 32, szerokość 15,24mm
Producent: 3M
Kod: 232-1285-00-0602J
Dostępna ilość: 3 (szt.)
27,50 zł netto / szt.
33,83 zł brutto / szt.
Podstawka testowa, 144pin, QFP144, 7020144608
Producent: Sensata (Wells)
Kod: 7020144608
Dostępna ilość: 0 (szt.)
160,00 zł netto / szt.
196,80 zł brutto / szt.
|
Nasz serwis wykorzystuje pliki cookies. Korzystanie z witryny oznacza zgodę na ich zapis lub wykorzystanie.
Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności. |
|
