Katalog.pdf
Podstawka testowa do układów scalonych w obudowie DIP
SPECYFIKACJA:
Typ podstawki | DIP - ZIF |
Ilość pinów |
40 |
Raster | 2,54 mm |
Odległość pomiędzy rzędami | 15,24 mm |
Montaż | THT |
Temperatura pracy | -55˚C - 150˚C |
Prąd znamionowy | 1A |
Napięcie pracy | 500VDC |
Ilość cykli pomiarowych | 20000 |
Ilość pinów | 20 - 40 |
Obudowa | DIP |
Podstawka testowa, 24 pin, DIP
DIP 24, szerokość 10,16mm
Producent: 3M
Kod: DIP24.03-06
Dostępna ilość: 111 (szt.)
Podstawka testowa, 20 pin, DIP
DIP 20, szerokość 7,62mm
Producent: 3M
Kod: 220-3342-00-0605
Dostępna ilość: 3 (szt.)