Katalog.pdf
Podstawka testowa do układów scalonych w obudowie DIP.
SPECYFIKACJA:
Typ podstawki | DIP - ZIF |
Ilość pinów |
28 |
Raster | 2,54 mm |
Odległość pomiędzy rzędami | 15,24 mm |
Montaż | THT |
Temperatura pracy | -55˚C - 150˚C |
Prąd znamionowy | 1A |
Napięcie pracy | 500VDC |
Ilość cykli pomiarowych | 20000 |
Ilość pinów | 20 - 40 |
Obudowa | DIP |
Podstawka testowa, 24 pin, DIP
DIP 24, szerokość 15,24mm
Producent: 3M
Kod: 224-3344-00-0605
Dostępna ilość: 56 (szt.)
21,90 zł netto / szt.
26,94 zł brutto / szt.
Podstawka testowa, 40 pin, DIP
DIP 40.08 (szeroki rozstaw)
Producent: 3M
Kod: 240-6182-00-0605
Dostępna ilość: 9 (szt.)