tel. 22 615 83 40
MATERIAŁY DLA ELEKTRONIKI
MATERIAŁY DLA PRZEMYSŁU
MATERIAŁY DO MIKROELEKTRONIKI
MATERIAŁY DLA LOTNICTWA
AKCESORIA I APARATURA POMIAROWA
PODZESPOŁY
PRZEWODY I AKCESORIA
NARZĘDZIA
LASERY
ARTYKUŁY BHP I ANTYSTATYKA
FOTOWOLTAIKA
USŁUGI DLA ELEKTRONIKI
Katalog.pdf
Podstawka testowa do układów scalonych w obudowie DIP
SPECYFIKACJA:
| Typ podstawki | DIP - ZIF |
| Ilość pinów | 24 |
| Raster | 2,54 mm |
| Odległość pomiędzy rzędami | 7,62 mm |
| Montaż | THT |
| Temperatura pracy | -55˚C - 150˚C |
| Prąd znamionowy | 1A |
| Napięcie pracy | 500VDC |
| Ilość cykli pomiarowych | 20000 |
| Ilość pinów | 20 - 40 |
| Obudowa | DIP |
Podstawka testowa, 32pin, PLCC32, IC51-0324-453
Producent: YAMAICHI
Kod: IC51-0324-453
Dostępna ilość: 1 (szt.)
100,00 zł netto / szt.
123,00 zł brutto / szt.
Podstawka testowa, 44pin, PLCC44, 647C1440312
Producent: WELLS
Kod: 647C1440312
Dostępna ilość: 4 (szt.)
60,00 zł netto / szt.
73,80 zł brutto / szt.
Podstawka testowa, 36pin, SSOP36, 656L1543612
Producent: Sensata (Wells)
Kod: 656L1543612
Dostępna ilość: 8 (szt.)
90,00 zł netto / szt.
110,70 zł brutto / szt.
Podstawka testowa, 40 pin, DIP
DIP 40.08 (szeroki rozstaw)
Producent: 3M
Kod: 240-6182-00-0605
Dostępna ilość: 9 (szt.)
|
Nasz serwis wykorzystuje pliki cookies. Korzystanie z witryny oznacza zgodę na ich zapis lub wykorzystanie.
Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności. |
|
