Katalog.pdf
Podstawka testowa do układów scalonych w obudowie DIP.
SPECYFIKACJA:
Typ podstawki | DIP - ZIF |
Ilość pinów | 24 |
Raster | 2,54 mm |
Odległość pomiędzy rzędami | 15,24 mm |
Montaż | THT |
Temperatura pracy | -55˚C - 150˚C |
Prąd znamionowy | 1A |
Napięcie pracy | 500VDC |
Ilość cykli pomiarowych | 20000 |
Ilość pinów | 20 - 40 |
Obudowa | DIP |
Podstawka testowa, 48 pin DIP
DIP 48, szerokość 15,24mm
Producent: 3M
Kod: 248-4775-00-0605
Dostępna ilość: 1 (szt.)
58,20 zł netto / szt.
71,59 zł brutto / szt.
Podstawka testowa, 16pin, SOP16, 652B0162211-002
Producent: WELLS
Kod: 652B0162211-002
Dostępna ilość: 0 (szt.)
35,00 zł netto / szt.
43,05 zł brutto / szt.
Podstawka testowa, 18 pin, SOIC
SOIC 18, szerokość układu 7,62mm
Producent: 3M
Kod: 218-7223-55-1905
Dostępna ilość: 21 (szt.)
46,20 zł netto / szt.
56,83 zł brutto / szt.
Podstawka testowa, 44pin, TSOP44, 674C1504415-E11
Producent: Sensata (Wells)
Kod: 674C1504415-E11
Dostępna ilość: 1 (szt.)
60,00 zł netto / szt.
73,80 zł brutto / szt.