Katalog.pdf
Podstawka testowa do układów scalonych w obudowie SOIC.
SPECYFIKACJA:
Typ podstawki | SOIC |
Ilość pinów | 20 |
Raster | 2,54 mm |
Szerokość układu | 7,62 mm (0,3'') |
Montaż | SMT |
Temperatura pracy | -55˚C - 150˚C |
Prąd znamionowy | 1A |
Ilość pinów | 0 - 20 |
Obudowa | SOIC |
Podstawka testowa, 40 pin, DIP
DIP 40.08 (szeroki rozstaw)
Producent: 3M
Kod: 240-6182-00-0605
Dostępna ilość: 9 (szt.)
Podstawka testowa, 24pin, SOP24, IC51-0242-761
Producent: YAMAICHI
Kod: IC51-0242-761
Dostępna ilość: 1 (szt.)
300,00 zł netto / szt.
369,00 zł brutto / szt.