tel. 22 615 83 40
MATERIAŁY DLA ELEKTRONIKI
MATERIAŁY DLA PRZEMYSŁU
MATERIAŁY DO MIKROELEKTRONIKI
MATERIAŁY DLA LOTNICTWA
AKCESORIA I APARATURA POMIAROWA
PODZESPOŁY
PRZEWODY I AKCESORIA
NARZĘDZIA
LASERY
ARTYKUŁY BHP I ANTYSTATYKA
FOTOWOLTAIKA
USŁUGI DLA ELEKTRONIKI
Katalog.pdf
Podstawka testowa do układów scalonych w obudowie SOIC.
SPECYFIKACJA:
| Typ podstawki | SOIC |
| Ilość pinów | 20 |
| Raster | 2,54 mm |
| Szerokość układu | 7,62 mm (0,3'') |
| Montaż | SMT |
| Temperatura pracy | -55˚C - 150˚C |
| Prąd znamionowy | 1A |
| Ilość pinów | 0 - 20 |
| Obudowa | SOIC |
Podstawka testowa, 32 pin, DIP
DIP 32, szerokość 15,24mm
Producent: 3M
Kod: 232-1285-00-0602J
Dostępna ilość: 3 (szt.)
27,50 zł netto / szt.
33,83 zł brutto / szt.
Podstawka testowa, 8pin, SOP8, 652B0082211-001
Producent: Sensata (Wells)
Kod: 652B0082211-001
Dostępna ilość: 13 (szt.)
25,00 zł netto / szt.
30,75 zł brutto / szt.
Podstawka testowa, 112pin, QFP112, 7020112608
Producent: WELLS
Kod: 7020112608
Dostępna ilość: 4 (szt.)
150,00 zł netto / szt.
184,50 zł brutto / szt.
Podstawka testowa, 44pin, TSOP44, IC51-0442-1709
Producent: YAMAICHI
Kod: IC51-0442-1709
Dostępna ilość: 2 (szt.)
150,00 zł netto / szt.
184,50 zł brutto / szt.
|
Nasz serwis wykorzystuje pliki cookies. Korzystanie z witryny oznacza zgodę na ich zapis lub wykorzystanie.
Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności. |
|
