Katalog.pdf
Podstawka testowa do układów scalonych w obudowie SOIC.
SPECYFIKACJA:
Typ podstawki | SOIC |
Ilość pinów | 20 |
Raster | 2,54 mm |
Szerokość układu | 7,62 mm (0,3'') |
Montaż | SMT |
Temperatura pracy | -55˚C - 150˚C |
Prąd znamionowy | 1A |
Ilość pinów | 0 - 20 |
Obudowa | SOIC |
Podstawka testowa, 44pin, SOP44, IC189-0442-065N
Producent: YAMAICHI
Kod: IC189-0442-065N
Dostępna ilość: 2 (szt.)
150,00 zł netto / szt.
184,50 zł brutto / szt.
Podstawka testowa, 36pin, SSOP36, 656L1543612
Producent: Sensata (Wells)
Kod: 656L1543612
Dostępna ilość: 8 (szt.)
90,00 zł netto / szt.
110,70 zł brutto / szt.
Podstawka testowa, 24 pin, DIP
DIP 24, szerokość 15,24mm
Producent: 3M
Kod: 224-3344-00-0605
Dostępna ilość: 56 (szt.)
21,90 zł netto / szt.
26,94 zł brutto / szt.