Katalog.pdf
Podstawka testowa do układów scalonych w obudowie DIP.
SPECYFIKACJA:
Typ podstawki | DIP - ZIF |
Ilość pinów | 24 |
Raster | 2,54 mm |
Odległość pomiędzy rzędami | 15,24 mm |
Montaż | THT |
Temperatura pracy | -55˚C - 150˚C |
Prąd znamionowy | 1A |
Napięcie pracy | 500VDC |
Ilość cykli pomiarowych | 20000 |
Ilość pinów | 20 - 40 |
Obudowa | DIP |
Podstawka testowa, 28 pin, DIP
DIP 28, szerokość 15,24mm
Producent: 3M
Kod: 228-3345-00-0605
Dostępna ilość: 63 (szt.)
25,00 zł netto / szt.
30,75 zł brutto / szt.
Podstawka testowa, 44pin, SSOP44, 656D2442211-001
Producent: Sensata (Wells)
Kod: 656D2442211-001
Dostępna ilość: 8 (szt.)
110,00 zł netto / szt.
135,30 zł brutto / szt.