Katalog.pdf
Podstawka testowa do układów scalonych w obudowie DIL.
SPECYFIKACJA:
Typ podstawki | DIL - ZIF |
Ilość pinów | 24 |
Odległość pomiędzy rzędami | 10,16 mm |
Montaż | THT |
Temperatura pracy | -55˚C - 150˚C |
Prąd znamionowy | 1A |
Raster | 2,54 mm |
Napięcie pracy | 500VDC |
Ilość cykli pomiarowych | 20000 |
Ilość pinów | 20 - 40 |
Obudowa | inne |
Podstawka testowa, 28pin, TSOP28(I), IC51-0282-1032
Producent: YAMAICHI
Kod: IC51-0282-1032
Dostępna ilość: 3 (szt.)
200,00 zł netto / szt.
246,00 zł brutto / szt.
Podstawka testowa, 44pin, SSOP44, 656D2442211-001
Producent: Sensata (Wells)
Kod: 656D2442211-001
Dostępna ilość: 8 (szt.)
110,00 zł netto / szt.
135,30 zł brutto / szt.
Podstawka testowa, 8pin, SOP8, 652B0082211-001
Producent: Sensata (Wells)
Kod: 652B0082211-001
Dostępna ilość: 23 (szt.)
25,00 zł netto / szt.
30,75 zł brutto / szt.
Podstawka testowa, 144pin, QFP144, 7020144608
Producent: Sensata (Wells)
Kod: 7020144608
Dostępna ilość: 0 (szt.)
160,00 zł netto / szt.
196,80 zł brutto / szt.