tel. 22 615 83 40
MATERIAŁY DLA ELEKTRONIKI
MATERIAŁY DLA PRZEMYSŁU
MATERIAŁY DO MIKROELEKTRONIKI
MATERIAŁY DLA LOTNICTWA
AKCESORIA I APARATURA POMIAROWA
PODZESPOŁY
PRZEWODY I AKCESORIA
NARZĘDZIA
LASERY
ARTYKUŁY BHP I ANTYSTATYKA
FOTOWOLTAIKA
USŁUGI DLA ELEKTRONIKI
Katalog.pdf
Podstawka testowa do układów scalonych w obudowie DIL.
SPECYFIKACJA:
| Typ podstawki | DIL - ZIF |
| Ilość pinów | 24 |
| Odległość pomiędzy rzędami | 10,16 mm |
| Montaż | THT |
| Temperatura pracy | -55˚C - 150˚C |
| Prąd znamionowy | 1A |
| Raster | 2,54 mm |
| Napięcie pracy | 500VDC |
| Ilość cykli pomiarowych | 20000 |
| Ilość pinów | 20 - 40 |
| Obudowa | inne |
Podstawka testowa, 112pin, QFP112, 7020112608
Producent: WELLS
Kod: 7020112608
Dostępna ilość: 4 (szt.)
150,00 zł netto / szt.
184,50 zł brutto / szt.
Podstawka testowa, 128pin, QFP128, FPQ-128-0,5-03A
Producent: Enplas
Kod: FPQ-128-0,5-03A
Dostępna ilość: 1 (szt.)
250,00 zł netto / szt.
307,50 zł brutto / szt.
Podstawka testowa, 40 pin, DIP
DIP 40.06 szerokość 15,24mm
Producent: 3M
Kod: 240-3346-00-0605
Dostępna ilość: 13 (szt.)
Podstawka testowa, 22 pin, DIP
DIP 22, szerokość 10,16mm
Producent: 3M
Kod: 222-3343-00-0605
Dostępna ilość: 2 (szt.)
|
Nasz serwis wykorzystuje pliki cookies. Korzystanie z witryny oznacza zgodę na ich zapis lub wykorzystanie.
Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności. |
|
