tel. 22 615 83 40
MATERIAŁY DLA ELEKTRONIKI
MATERIAŁY DLA PRZEMYSŁU
MATERIAŁY DO MIKROELEKTRONIKI
MATERIAŁY DLA LOTNICTWA
AKCESORIA I APARATURA POMIAROWA
PODZESPOŁY
PRZEWODY I AKCESORIA
NARZĘDZIA
LASERY
ARTYKUŁY BHP I ANTYSTATYKA
FOTOWOLTAIKA
USŁUGI DLA ELEKTRONIKI
Katalog.pdf
Podstawka testowa do układów scalonych w obudowie DIL.
SPECYFIKACJA:
| Typ podstawki | DIL - ZIF |
| Ilość pinów | 24 |
| Odległość pomiędzy rzędami | 10,16 mm |
| Montaż | THT |
| Temperatura pracy | -55˚C - 150˚C |
| Prąd znamionowy | 1A |
| Raster | 2,54 mm |
| Napięcie pracy | 500VDC |
| Ilość cykli pomiarowych | 20000 |
| Ilość pinów | 20 - 40 |
| Obudowa | inne |
Podstawka testowa, 16pin, SOP16, 652B0162211-002
Producent: WELLS
Kod: 652B0162211-002
Dostępna ilość: 0 (szt.)
35,00 zł netto / szt.
43,05 zł brutto / szt.
Podstawka testowa, 32 pin, DIL
DIL 32, szerokość 10,16mm
Producent: 3M
Kod: 232-7282-00-0605
Dostępna ilość: 0 (szt.)
Podstawka testowa, 14 pin, SOIC
SOIC 14, szerokość układu 3,81mm
Producent: 3M
Kod: 214-7390-55-1905
Dostępna ilość: 0 (szt.)
37,99 zł netto / szt.
46,73 zł brutto / szt.
Podstawka testowa, 48pin, TSOPI, IC189-0482-077N
Producent: YAMAICHI
Kod: IC189-0482-077N
Dostępna ilość: 1 (szt.)
150,00 zł netto / szt.
184,50 zł brutto / szt.
|
Nasz serwis wykorzystuje pliki cookies. Korzystanie z witryny oznacza zgodę na ich zapis lub wykorzystanie.
Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności. |
|
