tel. 22 615 83 40
MATERIAŁY DLA ELEKTRONIKI
MATERIAŁY DLA PRZEMYSŁU
MATERIAŁY DO MIKROELEKTRONIKI
MATERIAŁY DLA LOTNICTWA
AKCESORIA I APARATURA POMIAROWA
PODZESPOŁY
PRZEWODY I AKCESORIA
NARZĘDZIA
LASERY
ARTYKUŁY BHP I ANTYSTATYKA
FOTOWOLTAIKA
USŁUGI DLA ELEKTRONIKI
Katalog.pdf
Podstawka testowa do układów scalonych w obudowie DIL.
SPECYFIKACJA:
| Typ podstawki | DIL - ZIF |
| Ilość pinów | 24 |
| Odległość pomiędzy rzędami | 10,16 mm |
| Montaż | THT |
| Temperatura pracy | -55˚C - 150˚C |
| Prąd znamionowy | 1A |
| Raster | 2,54 mm |
| Napięcie pracy | 500VDC |
| Ilość cykli pomiarowych | 20000 |
| Ilość pinów | 20 - 40 |
| Obudowa | inne |
Podstawka testowa, 44pin, SOP44, IC51-0442-1208
Producent: YAMAICHI
Kod: IC51-0442-1208
Dostępna ilość: 3 (szt.)
250,00 zł netto / szt.
307,50 zł brutto / szt.
Podstawka testowa, 18 pin, SOIC
SOIC 18, szerokość układu 7,62mm
Producent: 3M
Kod: 218-7223-55-1905
Dostępna ilość: 20 (szt.)
46,20 zł netto / szt.
56,83 zł brutto / szt.
Podstawka testowa, 48 pin DIP
DIP 48, szerokość 15,24mm
Producent: 3M
Kod: 248-4775-00-0605
Dostępna ilość: 1 (szt.)
58,20 zł netto / szt.
71,59 zł brutto / szt.
|
Nasz serwis wykorzystuje pliki cookies. Korzystanie z witryny oznacza zgodę na ich zapis lub wykorzystanie.
Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności. |
|
