Katalog.pdf
Podstawka testowa do układów scalonych w obudowie SOIC.
SPECYFIKACJA:
Typ podstawki | SOIC |
Ilość pinów | 20 |
Raster | 2,54 mm |
Szerokość układu | 7,62 mm (0,3'') |
Montaż | SMT |
Temperatura pracy | -55˚C - 150˚C |
Prąd znamionowy | 1A |
Ilość pinów | 0 - 20 |
Obudowa | SOIC |
Podstawka testowa, 20pin, PLCC20, IC51-0204-602
Producent: YAMAICHI
Kod: IC51-0204-602
Dostępna ilość: 1 (szt.)
100,00 zł netto / szt.
123,00 zł brutto / szt.
Podstawka testowa, 144pin, QFP144, 7020144608
Producent: Sensata (Wells)
Kod: 7020144608
Dostępna ilość: 0 (szt.)
160,00 zł netto / szt.
196,80 zł brutto / szt.
Podstawka testowa, 20pin, TSOP20, 676-3200111
Producent: Sensata (Wells)
Kod: 676-3200111
Dostępna ilość: 2 (szt.)
100,00 zł netto / szt.
123,00 zł brutto / szt.