tel. 22 615 83 40
MATERIAŁY DLA ELEKTRONIKI
MATERIAŁY DLA PRZEMYSŁU
MATERIAŁY DO MIKROELEKTRONIKI
MATERIAŁY DLA LOTNICTWA
AKCESORIA I APARATURA POMIAROWA
PODZESPOŁY
PRZEWODY I AKCESORIA
NARZĘDZIA
LASERY
ARTYKUŁY BHP I ANTYSTATYKA
FOTOWOLTAIKA
USŁUGI DLA ELEKTRONIKI
Katalog.pdf
Podstawka testowa do układów scalonych w obudowie SOIC.
SPECYFIKACJA:
| Typ podstawki | SOIC |
| Ilość pinów | 18 |
| Raster | 2,54 mm |
| Szerokość układu | 7,62 mm (0,3'') |
| Montaż | SMT |
| Temperatura pracy | -55˚C - 150˚C |
| Prąd znamionowy | 1A |
| Ilość pinów | 0 - 20 |
| Obudowa | SOIC |
Podstawka testowa, 24pin, SOP24, IC51-0242-761
Producent: YAMAICHI
Kod: IC51-0242-761
Dostępna ilość: 1 (szt.)
300,00 zł netto / szt.
369,00 zł brutto / szt.
Podstawka testowa, 44pin, SOP44, 652G044 2211
Producent: Sensata (Wells)
Kod: 652G044 2211
Dostępna ilość: 3 (szt.)
90,00 zł netto / szt.
110,70 zł brutto / szt.
Podstawka testowa, 24 pin, DIP
DIP 24, szerokość 7,62mm
Producent: 3M
Kod: 224-5248-00-0605
Dostępna ilość: 22 (szt.)
Podstawka testowa, 36pin, SSOP36, 656L1543612
Producent: Sensata (Wells)
Kod: 656L1543612
Dostępna ilość: 8 (szt.)
90,00 zł netto / szt.
110,70 zł brutto / szt.
|
Nasz serwis wykorzystuje pliki cookies. Korzystanie z witryny oznacza zgodę na ich zapis lub wykorzystanie.
Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności. |
|
