tel. 22 615 83 40
MATERIAŁY DLA ELEKTRONIKI
MATERIAŁY DLA PRZEMYSŁU
MATERIAŁY DO MIKROELEKTRONIKI
MATERIAŁY DLA LOTNICTWA
AKCESORIA I APARATURA POMIAROWA
PODZESPOŁY
PRZEWODY I AKCESORIA
NARZĘDZIA
LASERY
ARTYKUŁY BHP I ANTYSTATYKA
FOTOWOLTAIKA
USŁUGI DLA ELEKTRONIKI
Katalog.pdf
Podstawka testowa do układów scalonych w obudowie SOIC.
SPECYFIKACJA:
| Typ podstawki | SOIC |
| Ilość pinów | 18 |
| Raster | 2,54 mm |
| Szerokość układu | 7,62 mm (0,3'') |
| Montaż | SMT |
| Temperatura pracy | -55˚C - 150˚C |
| Prąd znamionowy | 1A |
| Ilość pinów | 0 - 20 |
| Obudowa | SOIC |
Podstawka testowa, 32 pin, DIL
DIL 32, szerokość 10,16mm
Producent: 3M
Kod: 232-7282-00-0605
Dostępna ilość: 0 (szt.)
|
Nasz serwis wykorzystuje pliki cookies. Korzystanie z witryny oznacza zgodę na ich zapis lub wykorzystanie.
Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności. |
|
