Katalog.pdf
Podstawka testowa do układów scalonych w obudowie DIP.
Typ podstawki | DIP - ZIF |
Ilość pinów | 18 |
Raster | 2,54 mm |
Odległość pomiędzy rzędami | 7,62 mm |
Montaż | THT |
Temperatura pracy | -55˚C - 150˚C |
Prąd znamionowy | 1A |
Napięcie pracy | 500VDC |
Ilość cykli pomiarowych | 20000 |
Ilość pinów | 0 - 20 |
Obudowa | DIP |
Podstawka testowa, 28pin, SOP28, 652E0282211
Producent: Sensata (Wells)
Kod: 652E0282211
Dostępna ilość: 15 (szt.)
40,00 zł netto / szt.
49,20 zł brutto / szt.
Podstawka testowa, 40 pin, DIP
DIP 40.06 szerokość 15,24mm
Producent: 3M
Kod: 240-3346-00-0605
Dostępna ilość: 13 (szt.)
Podstawka testowa, 56pin, TSOP56, 648-0562211-A01
Producent: Sensata (Wells)
Kod: 648-0562211-A01
Dostępna ilość: 0 (szt.)
100,00 zł netto / szt.
123,00 zł brutto / szt.