Podstawka testowa do układów scalonych w obudowie DIP.
Podstawka przeznaczona do układów scalonych o szerokim rozstawie.
WŁASNOŚCI:
Prąd: 1A
Rezystancja izolacji: > 1*10^9Ω do 500VDC
Wytrzymałość napięciowa: 1000V
Temperatura pracy: -55°C +150°C
Raster między rzędami: 20,32 mm.
Ilość pinów | 20 - 40 |
Obudowa | inne |
Podstawka testowa, 32 pin, DIL
DIL 32, szerokość 10,16mm
Producent: 3M
Kod: 232-7282-00-0605
Dostępna ilość: 0 (szt.)
Podstawka testowa, 48pin, TSOPI, IC189-0482-077N
Producent: YAMAICHI
Kod: IC189-0482-077N
Dostępna ilość: 1 (szt.)
150,00 zł netto / szt.
184,50 zł brutto / szt.
Podstawka testowa, 14 pin, SOIC
SOIC 14, szerokość układu 3,81mm
Producent: 3M
Kod: 214-7390-55-1905
Dostępna ilość: 0 (szt.)
37,99 zł netto / szt.
46,73 zł brutto / szt.
Podstawka testowa, 44pin, SSOP44, 656D2442211-001
Producent: Sensata (Wells)
Kod: 656D2442211-001
Dostępna ilość: 8 (szt.)
110,00 zł netto / szt.
135,30 zł brutto / szt.