Katalog.pdf
Podstawka testowa do układów scalonych w obudowie SOIC.
SPECYFIKACJA:
Typ podstawki | SOIC |
Ilość pinów | 14 |
Raster | 2,54 mm |
Szerokość układu | 3,81 mm (0,15'') |
Montaż | SMT |
Temperatura pracy | -55˚C - 150˚C |
Prąd znamionowy | 1A |
Ilość pinów | 0 - 20 |
Obudowa | SOIC |
Podstawka testowa, 40 pin, DIP
DIP 40.06 szerokość 15,24mm
Producent: 3M
Kod: 240-3346-00-0605
Dostępna ilość: 13 (szt.)