Katalog.pdf
Podstawka testowa do układów scalonych w obudowie DIP
SPECYFIKACJA:
Typ podstawki | DIP - ZIF |
Ilość pinów |
40 |
Raster | 2,54 mm |
Odległość pomiędzy rzędami | 15,24 mm |
Montaż | THT |
Temperatura pracy | -55˚C - 150˚C |
Prąd znamionowy | 1A |
Napięcie pracy | 500VDC |
Ilość cykli pomiarowych | 20000 |
Ilość pinów | 20 - 40 |
Obudowa | DIP |
Podstawka testowa, 44pin, PLCC44, 647C1440312
Producent: WELLS
Kod: 647C1440312
Dostępna ilość: 4 (szt.)
60,00 zł netto / szt.
73,80 zł brutto / szt.
Podstawka testowa, 16 pin, DIP
DIP 16, szerokość 7,62mm
Producent: 3M
Kod: 216-3340-00-0605
Dostępna ilość: 0 (szt.)
Podstawka testowa, 20pin, PLCC20, IC51-0204-602
Producent: YAMAICHI
Kod: IC51-0204-602
Dostępna ilość: 1 (szt.)
100,00 zł netto / szt.
123,00 zł brutto / szt.