Katalog.pdf
Podstawka testowa do układów scalonych w obudowie DIP
SPECYFIKACJA:
Typ podstawki | DIP - ZIF |
Ilość pinów | 24 |
Raster | 2,54 mm |
Odległość pomiędzy rzędami | 7,62 mm |
Montaż | THT |
Temperatura pracy | -55˚C - 150˚C |
Prąd znamionowy | 1A |
Napięcie pracy | 500VDC |
Ilość cykli pomiarowych | 20000 |
Ilość pinów | 20 - 40 |
Obudowa | DIP |
Podstawka testowa, 16pin, SOP16, 652B0162211-002
Producent: WELLS
Kod: 652B0162211-002
Dostępna ilość: 0 (szt.)
35,00 zł netto / szt.
43,05 zł brutto / szt.
Podstawka testowa, 112pin, QFP112, OTQ-112-0,65-02
Producent: Enplas
Kod: OTQ-112-0,65-02
Dostępna ilość: 1 (szt.)
260,00 zł netto / szt.
319,80 zł brutto / szt.
Podstawka testowa, 20 pin, SOIC
SOIC 20, szerokość układu 7,62mm
Producent: 3M
Kod: 220-7201-55-1902
Dostępna ilość: 13 (szt.)
46,30 zł netto / szt.
56,95 zł brutto / szt.
Podstawka testowa, 32pin, PLCC32, IC51-0324-453
Producent: YAMAICHI
Kod: IC51-0324-453
Dostępna ilość: 1 (szt.)
100,00 zł netto / szt.
123,00 zł brutto / szt.