Katalog.pdf
Podstawka testowa do układów scalonych w obudowie DIP.
SPECYFIKACJA:
Typ podstawki | DIP - ZIF |
Ilość pinów | 24 |
Raster | 2,54 mm |
Odległość pomiędzy rzędami | 15,24 mm |
Montaż | THT |
Temperatura pracy | -55˚C - 150˚C |
Prąd znamionowy | 1A |
Napięcie pracy | 500VDC |
Ilość cykli pomiarowych | 20000 |
Ilość pinów | 20 - 40 |
Obudowa | DIP |
Podstawka testowa, 48pin, TSOP48, IC51-0482-1099
Producent: YAMAICHI
Kod: IC51-0482-1099
Dostępna ilość: 1 (szt.)
150,00 zł netto / szt.
184,50 zł brutto / szt.
Podstawka testowa, 16pin, SOP16, 652B0162211-002
Producent: WELLS
Kod: 652B0162211-002
Dostępna ilość: 0 (szt.)
35,00 zł netto / szt.
43,05 zł brutto / szt.
Podstawka testowa, 16pin, SOP16, 652B0162211-001
Producent: Sensata (Wells)
Kod: 652B0162211-001
Dostępna ilość: 18 (szt.)
35,00 zł netto / szt.
43,05 zł brutto / szt.
Podstawka testowa, 36pin, SSOP36, 656L1543612
Producent: Sensata (Wells)
Kod: 656L1543612
Dostępna ilość: 8 (szt.)
90,00 zł netto / szt.
110,70 zł brutto / szt.