Katalog.pdf
Podstawka testowa do układów scalonych w obudowie SOIC.
SPECYFIKACJA:
Typ podstawki | SOIC |
Ilość pinów | 20 |
Raster | 2,54 mm |
Szerokość układu | 7,62 mm (0,3'') |
Montaż | SMT |
Temperatura pracy | -55˚C - 150˚C |
Prąd znamionowy | 1A |
Ilość pinów | 0 - 20 |
Obudowa | SOIC |
Podstawka testowa, 16pin, SOP16, 652B0162211-001
Producent: Sensata (Wells)
Kod: 652B0162211-001
Dostępna ilość: 18 (szt.)
35,00 zł netto / szt.
43,05 zł brutto / szt.
Podstawka testowa, 24 pin, DIP
DIP 24, szerokość 10,16mm
Producent: 3M
Kod: DIP24.03-06
Dostępna ilość: 111 (szt.)
Podstawka testowa, 44pin, PLCC44, 647C1440312
Producent: WELLS
Kod: 647C1440312
Dostępna ilość: 4 (szt.)
60,00 zł netto / szt.
73,80 zł brutto / szt.
Podstawka testowa, 48pin, TSOPI, IC189-0482-077N
Producent: YAMAICHI
Kod: IC189-0482-077N
Dostępna ilość: 1 (szt.)
150,00 zł netto / szt.
184,50 zł brutto / szt.