tel. 22 615 83 40
MATERIAŁY DLA ELEKTRONIKI
MATERIAŁY DLA PRZEMYSŁU
MATERIAŁY DO MIKROELEKTRONIKI
MATERIAŁY DLA LOTNICTWA
AKCESORIA I APARATURA POMIAROWA
PODZESPOŁY
PRZEWODY I AKCESORIA
NARZĘDZIA
LASERY
ARTYKUŁY BHP I ANTYSTATYKA
FOTOWOLTAIKA
USŁUGI DLA ELEKTRONIKI
Podstawka testowa otwarta (open-top).
Podstawka montowana do druku.
Specyfikacja:
| Obudowa: | QFP112 |
| Raster: | 0,65 mm (32 mil) |
| Szerokość układu: | 20,0 mm |
| Długość układu: | 22,0 mm |
| Ilość pinów | ponad 80 |
| Obudowa | QFP |
Podstawka testowa, 40 pin, DIP
DIP 40.06 szerokość 15,24mm
Producent: 3M
Kod: 240-3346-00-0605
Dostępna ilość: 13 (szt.)
Podstawka testowa, 24 pin, DIP
DIP 24, szerokość 7,62mm
Producent: 3M
Kod: 224-5248-00-0605
Dostępna ilość: 22 (szt.)
Podstawka testowa, 32 pin, DIL
DIL 32, szerokość 10,16mm
Producent: 3M
Kod: 232-7282-00-0605
Dostępna ilość: 0 (szt.)
|
Nasz serwis wykorzystuje pliki cookies. Korzystanie z witryny oznacza zgodę na ich zapis lub wykorzystanie.
Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności. |
|
