Katalog.pdf
Podstawka testowa do układów scalonych w obudowie SOIC.
SPECYFIKACJA:
Typ podstawki | SOIC |
Ilość pinów | 18 |
Raster | 2,54 mm |
Szerokość układu | 7,62 mm (0,3'') |
Montaż | SMT |
Temperatura pracy | -55˚C - 150˚C |
Prąd znamionowy | 1A |
Ilość pinów | 0 - 20 |
Obudowa | SOIC |
Podstawka testowa, 24pin, SOP24, IC51-0242-761
Producent: YAMAICHI
Kod: IC51-0242-761
Dostępna ilość: 1 (szt.)
300,00 zł netto / szt.
369,00 zł brutto / szt.
Podstawka testowa, 32 pin, DIL
DIL 32, szerokość 10,16mm
Producent: 3M
Kod: 232-7282-00-0605
Dostępna ilość: 0 (szt.)
Podstawka testowa, 44pin, SOP44, IC189-0442-065N
Producent: YAMAICHI
Kod: IC189-0442-065N
Dostępna ilość: 2 (szt.)
150,00 zł netto / szt.
184,50 zł brutto / szt.